spc手册培训
【课程受益】
1、对过程做出可靠的评估；
2、判断过程是否失控和过程是否有能力；
3、为过程提供一个早期报警系统；
4、减少对常规检验的依赖性。
【参加人员】
体系负责人、工程技术人员、质量管理人员、现场主要生产和检验人员。
【课程大纲】
统计过程控制SPC
一、SPC概述
1、先进的工具和方法
2、什么是SPC
3、SPC在生产中运用的目的
4、为什么控制图能预防不合格品产生
5、SPC与检验的区别
6、SPC兴起的背景
二、基本统计概念
1、样本
2、均值
3、变差
4、极差
5、标准差（总体、样本）
6、常态分布
7、受控状态
8、普通原因和特殊原因
9、过程能力
10、过度调整
三、控制图
1、概述
2、控制图的构成
3、控制图的基本原理
4、控制图的要素
5、控制图分类
6、数据的类型
7、控制图运用的时机
8、制作控制图的注意事项
9、控制图绘制流程
四、Xbar----R图应用
1、选择需控制的产品质量特征值
2、确定抽样方案
3、确定抽样方案
4、确定中心线和控制限
5、绘制X(bar) -R控制界限
6、描点
7、何时应该重新计算控制界限
8、受控分析
9、过程能力计算
10、Cp,Cpk与Pp,Ppk的区别
五、其他常用控制图介绍
1、計量值控制图
--平均值标准差控制图
--中位数与全距控制图
--单值与移动全距控制图
2、计数值控制图
--不良率控制图
--不良数控制图
--缺点数控制图
--单位缺点数控制图
六、非常规控制图突发型
1、预控制图
2、停止灯控制图
五、练习
课程大纲：
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日程 |
题目 |
培训内容 |
开始 |
结束 |
培训时长 |
|
Day 1
第1天 |
第一章
基本统计概念 |
总体和样本 |
8:30 |
10:30 |
2:00 |
|
数据分析方法、直方图 |
|
正态分布及性质 |
|
常用统计量：均值、中位数、极差、标准差、移动极差 |
|
第二章
持续改进和统计过程控制 |
预防和探测 |
9:30 |
12:00 |
2:30 |
|
过程控制系统 |
|
变差的普通原因和特殊原因 |
|
局部措施和对系统采取措施（过度调整和戴明漏斗试验） |
|
Lunch Break(午餐) |
|
12:00 |
13:00 |
1:00 |
|
第三章
控制图原理 |
3σ原理、中心极限定理和两种错误 |
13:00 |
14:30 |
1:30 |
|
统计过程的控制概述 |
|
变差的普通及特殊原因、局部措施和对系统采取措施 |
|
减少特殊原因持续改进过程表现 |
|
过程控制和过程能力 |
14:30 |
16:30 |
2:00 |
|
Day 2
第2天 |
第四章
控制图及过程改善 |
过程改进循环和过程控制 |
8:30 |
10:30 |
2:00 |
|
控制图：过程控制和改进的工具 |
|
控制图的有效使用和益处 |
|
第五章
控制图运用步骤 |
控制图运用步骤 |
10:30 |
12:00 |
1:30 |
|
定义过程 |
|
确定作图的特性 |
|
选择控制图 |
|
测量系统分析 |
|
决定抽样方式 |
|
Lunch Break(午餐) |
|
12:00 |
13:00 |
1:00 |
|
第六章
控制图制作准备 |
统计过程的控制实施流程 |
13:00 |
14:30 |
1:30 |
|
使用控制图的准备 |
|
过程变差分析及变差模型建立 |
|
SPC与预测性维护的关系 |
|
第四章 计量型控制图 |
平均值极差控制图 |
14:30 |
16:30 |
2:00 |
|
Day 3
第3天 |
第七章
计量型控制图 |
平均值极差控制图（续） |
8:30 |
9:30 |
1:00 |
|
平均值标准差控制图 |
|
中位数极差控制图 |
|
单值移动极差控制图 |
|
第二版
新增的复杂SPC控制图 |
预控图 |
10:30 |
12:00 |
1:30 |
|
标准化控制图 |
|
计数型标准化控制图 |
|
检测小位移的控制图 |
|
CUSUM控制图 |
|
EWMA控制图 |
|
Lunch Break(午餐) |
|
12:00 |
13:00 |
1:00 |
|
第八章
认识计量型数据的过程能力和过程性能 |
过程术语的定义 |
13:00 |
14:30 |
1:30 |
|
条件描述 |
|
建议使用的过程测量 |
|
过程能力CPK实例 |
|
双向公差的能力分析 |
|
单向公差的能力分析 |
|
过程性能指数PPK，设备能力指数CMK比较 |
|
第六章
计数型控制图 |
P控制图 |
14:30 |
16:15 |
1:45 |
|
Np控制图 |
|
C图 |
|
U图 |
|
课程总结 |
|
16:15 |
16:30 |
0:15 |
|
|
注: 案例和练习时间以及上下午的课间休息时间(10分钟)包括在内 |
总共培训时长： |
16:00 |
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SPC统计控制程序案例
1目的
利用适当的统计技术和方法，分析、验证过程能力和产品特性，以便掌握问题，并提出纠正预防措施及改进措施，降低产品不良率，确保产品质量得到有效控制。
2范围
本统计技术应用程序适用于本公司内部与质量体系有关的各项活动。
3职责
质管部及各单位在适当阶段对数据进行收集及统计分析。
4定义
无。
5工作程序
5.1 根据产品质量特性和过程能力的需要，利用统计技术建立各检验过程的统计技术和方法，对各过程的统计数据加于分析，以稳定过程能力及降低产品不良率。
5.2 每月结束后，质管部利用“柏拉图统计分析”或“综合统计分析表”对产品质量状况作统计分析，对产品质量出现异常的应进行原因分析，并提出纠正预防措施及改进措施，工序质检员对纠正预防措施及改进措施的执行情况和改进效果进行追踪确认，直至该问题得到有效解决。
5.3 对新产品的开发或顾客有特殊要求及控制计划有要求的产品，在成品检验过程中，各单位应对产品质量特性和过程能力PPK/CPK及产品过程变化作X-R控制图进行统计分析、评估。（如顾客有特殊要求时，按顾客要求的统计技术、方法进行统计分析、评估），以了解产品的质量特性和过程能力在生产过程中的变化和稳定性，当产品质量特性和过程能力不能满足顾客要求或公司规定的要求时，由质管办通知相关责任部门针对异常问题进行原因分析，并提出纠正预防措施。
5.4 统计技术、方法的选用（推荐使用）
5.4.1资料的汇总、综合：检查表；
5.4.2原因分析：柏拉图；
5.4.3 随时间变动作前后比较：控制图；
5.4.4表示百分比：柏拉图、直方图；
5.4.5抽样计划：按MIL-STD-1-105E进行抽样；
5.4.6检验计划：抽检。
5.5 在产品质量先期策划过程中，项目小组应根据各过程相应的统计技术、方法或顾客要求的统计技术、方法来确定每一过程适用的统计技术、方法，并将其列入控制计划中，其具体的统计技术、方法
参照《产品质量先期策划控制程序》中的控制计划。
5.6 如合同中规定了顾客的特殊要求，生产技术办、质管办应根据顾客在合同中规定的特殊要求来确定统计技术，以使其满足合同要求。
5.7 为提高统计技术过程分析能力，质管办应根据各部门的实际工作状况，做好相关人员基础统计概念知识的培训计划，使其掌握和了解最基础的统计技术、方法。
6相关文件
6.1顾客满意度调查程序
6.2产品先期质量策划程序
6.3质量记录控制程序
6.4控制计划编制规定
7使用表单
7.1 柏拉图统计分析
7.2 X-R控制图
控制图的常数和公式表
Ｘ-Ｒ图
Ｘ-s图
均值Ｘ图
全距Ｒ图 均值Ｘ图
标准差Ｓ图
子组容量 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数
n A2 d2 D3 D4 A3 c4 B3 B4
2 1.880 1.128 - 3.267 2.659 0.7979 - 3.276
3 1.023 1.693 - 2.571 1.954 0.8862 - 2.568
4 0.729 2.059 - 2.282 1.628 0.9213 - 2.266
5 0.577 2.326 - 2.114 1.427 0.9400 - 2.089
6 0.483 2.543 - 2.004 1.287 0.9515 0.030 1.970
7 0.419 2.704 0.076 1.924 1.182 0.9594 0.118 1.882
8 0.373 2.847 0.136 1.864 1.099 0.9650 0.185 1.815
9 0.337 2.970 0.184 1.816 1.032 0.9693 0.239 1.761
10 0.308 3.078 0.223 1.777 0.975 0.9727 0.284 1.716
11 0.285 3.173 0.256 1.744 0.927 0.9754 0.321 1.679
12 0.266 3.258 0.283 1.717 0.886 0.9776 0.354 1.640
13 0.249 3.336 0.307 1.693 0.850 0.9794 0.382 1.618
14 0.235 3.407 0.328 1.672 0.817 0.9810 0.406 1.594
15 0.223 3.472 0.347 1.653 0.789 0.9823 0.428 1.572
16 0.212 3.532 0.363 1.637 0.763 0.9835 0.448 1.552
17 0.203 3.588 0.378 1.622 0.739 0.9845 0.446 1.534
18 0.194 3.640 0.391 1.608 0.718 0.9854 0.482 1.518
19 0.187 3.689 0.403 1.597 0.698 0.9862 0.497 1.503
20 0.180 3.735 0.415 1.585 0.680 0.9869 0.510 1.490
21 0.173 3.778 0.425 1.575 0.663 0.9876 0.523 1.477
22 0.167 3.819 0.434 1.566 0.647 0.9882 0.534 1.466
23 0.162 3.858 0.443 1.557 0.633 0.9887 0.545 1.455
24 0.157 3.895 0.451 1.548 0.619 0.9892 0.555 1.445
25 0.153 3.931 0.459 1.541 0.606 0.9896 0.565 1.435
UCLX,LCLX =
X±A2R
UCLX,LCLX =
X±A2R
UCLR = D4R
UCLS = B4s
LCLR = D3R
LCLS = B3s
δ=R/D2
δ= s/c4
中位数图 單值圖
中位数Ｘ图
全距Ｒ图 单值Ｘ图 全距Ｒ图
子组容量 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数 计算控制限用的系数 标准差估计值的除数 计算控制限用的系数
n A2
d2 D3 D4 E2 d2 D3 D4
2 1.880 1.128 - 3.267 2.660 1.128 - 3.267
3 1.187 1.693 - 2.574 1.772 1.693 - 2.574
4 0.796 2.059 - 2.282 1.457 2.059 - 2.282
5 0.691 2.326 - 2.114 1.290 2.326 - 2.114
6 0.548 2.534 - 2.004 1.184 2.534 - 2.004
7 0.508 2.704 0.076 1.924 1.109 2.704 0.076 1.924
8 0.433 2.847 0.136 1.864 1.054 2.847 0.136 1.864
9 0.412 2.970 0.184 1.816 1.010 2.970 0.184 1.816
10 0.362 3.078 0.223 1.777 0.975 3.078 0.223 1.777
UCLX,LCLX =
X±A2R UCLX,LCLX = X±E2R
UCLR = D4R
UCLMR = D4R
LCLR = D3R
LCLMR = D3R
δ=R/d2
δ= R/d2
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